便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀
深圳市方源儀器提供的便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀有著測(cè)量結(jié)果、日期及時(shí)間、統(tǒng)計(jì)分析等儲(chǔ)存后可通過(guò)連接線(xiàn)發(fā)送到您的電腦技術(shù)。便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀還支持雙功能技術(shù)磁感應(yīng)和渦流感應(yīng)，渦流技術(shù)測(cè)量如鋁、黃銅或銅等有色金屬上的非導(dǎo)電涂層：特富龍、搪瓷、環(huán)氧樹(shù)脂、陽(yáng)極氧化膜、粉末涂料、油漆等。磁感應(yīng)技術(shù)用于測(cè)量鋼鐵底材上的非磁性涂層：鋅、鎘、油漆、涂料等。
便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀參數(shù)：
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產(chǎn)品名稱(chēng)：膜厚測(cè)試儀CMI250
產(chǎn)品型號(hào)：CMI250
產(chǎn)品產(chǎn)地：美國(guó)
測(cè)試范圍：0.001-2.04mm（0.1-80mils）、0.001——1.52mm（0.1-60mils)
測(cè)試精度：參考不同的標(biāo)準(zhǔn)片±（2μm+3%讀數(shù)）
測(cè)試時(shí)間：2S
保修時(shí)間：1年
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
（磁感應(yīng)）符合AST M B499和B530、DIN 50981、ISO 2178及BS 5411標(biāo)準(zhǔn)第9和11部分的計(jì)量方法
（渦流感應(yīng)）符合AST M B244和B529、DIN 50984、ISO 2360及BS 5411標(biāo)準(zhǔn)第3部分的計(jì)量方法
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便攜式膜厚測(cè)試儀CMI250X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
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--自動(dòng)識(shí)別底材
--用戶(hù)不必自行校準(zhǔn)，但需要時(shí)也可由用戶(hù)自行校準(zhǔn)
--出廠(chǎng)前已校準(zhǔn)完畢,只需進(jìn)行快捷的基體校正歸零即可測(cè)量不同金屬基板上的涂層厚度
--具有統(tǒng)計(jì)分析報(bào)告功能：（數(shù)據(jù)記錄、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、上下限提醒功能）
--測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸，并保存為Excel格式文件
--帶有背光的可視顯示屏
--可選的連續(xù)測(cè)量模式
--儲(chǔ)存容量：可進(jìn)行9690次測(cè)量，日期和時(shí)間可自行設(shè)定
--電池壽命長(zhǎng)（每天150次測(cè)量約可工作1個(gè)月）
--在4℃-60℃范圍內(nèi)可進(jìn)行溫度補(bǔ)償校準(zhǔn)
--用戶(hù)界面為英文或簡(jiǎn)體中文
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